SJT 10015-1991 JU38和JU26型钟表用32KHZ音叉石英晶体元件
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ID： |
C6857404DA114FCB80D65DA6EA0A81BD |
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文件大小(MB)： |
0.16 |
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页数： |
8 |
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文件格式： |
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日期： |
2009-6-12 |
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Si,中华人民共和国电子工业行业标准,SJ/T 10015- 91,JU 38 和 JU 26 型,钟表用32kHz音叉石英晶体元件,1991-04-08发布1991-07-01实施,中华人民共和国机械电子工业部发布,中华人民共和国电子工业行业标准,JU 38 和 JU 26 型,钟表用32kHz音叉石英晶体元件,32 kHzt uningf ork quartzc rystalu nits,for clocks and watches type JU38 and JU26,SJ/T 10015- 91,本 标 准 参照采用国际电工委员会IEC6 89(SJ/Z9 162)标准《手表用32kHz石英晶体元件,的测量方法和试验方法及标准值》第一版(1980)。本标准除文字编排上不同之外，还增加了检,验规则、标志、包装、运输和贮存等内容,主题内容与适用范围,本 标 准 规定了JU38和JU26型钟表用音叉石英晶体元件(以下简称晶体元件)技术条件,该晶体元件主要用在电子石英钟、表和时钟型计算器以及其他计时仪器中,引用标准，〕,GB 2421 电工电子产品基本环境试验规程总则,GB 2422 电工电子产品基本环境试验规程名词术语,GB 2423 电工电子产品基本环境试验规程,GB 2828 逐批检查计数抽样程序及抽样表,GB 2829 周期检查计数抽样程序及抽样表,GB 191 包装贮运图示标志,结构、外形尺寸和重量,谐振器的结构如图1，外形尺寸和重量见表,采用说明:,门下述标准在相应的国家标准未制订前应引用归口所的相应译文,IEC 689 手表甩32kHz石英晶体元件的测量方法、试验方法和标准值.,中华人民共和国机械电子工业部1991-04-08批准1991-07-01实施,SJ/T 10015一91,图 1 结 构,表] 外形尺寸和重量,型号,尺寸mm 最大!t,代号标称值最大值最小值 9,JU38,D,H,W,d,L,3.00,1.10,0.30,3.08,8.30,1.30,0. 37,2.92,0. 90,0.23,7.00,0.20,JU26,D,H,W,d,L,2. 00,0.70,0.20,2.08,6. 10,0.90,0.27,1.92,0.50,0. 13,0.70,0. 15,技术要求及试验方法,4. 1 标准值及允许偏差和试验条件,4. 1.. 标准值及允许偏差:见表2,4.1.2 试验条件,4.1.2.1 除另有规定外，所有试验应在环境温度为15 350C，相对湿度为45%-75%，大气,压力为86-106kPa的正常大气条件下进行。试验前晶体元件应在正常大气条件下至少放置,lho,4.1.2.2 除非另有规定，频率和电阻的测量，应在下述条件下进行:,a 晶 体 元件应在基准温度下并达到热平衡后进行测试;,b 测 量 前应将激励电平调到规定值，测量过程中应保持激励电平稳定，一般不再进行调,整;,c 对 测 量仪器的要求:颇率测量误差应小于规定频差值的1/5，电阻测量误差不大于士,一2 一,sJ/i 10015一91,20%;测量频率和电阻相对变化时，前后两次测量应用同一测量仪器，且在相同温度(温差小于,士1 0C)下达到热平衡后进行测量,表 2 标 准 值 及 允 许 偏 差,序号项目符号单位,标准值,JU38 JU26,A B C,1,2,3,4,5,6,7,8,9,10,11,12,13,14,15,16,标 称频率,工 作温度范围,调 整颇差(25士。.5'C),最大 谐振电阻(工作条件下),最 小动态电容,品 质因数,并 电容,零 温度系数点,最 大抛物线系数,贮 存温度范围,由振 动引起的频差,由 冲击引起的频差,第一 年老化频差,引 出端应力引起的颇差,150V绝缘电阻,一最大傲励电平,J,AR了,凡,C,B,Ca,Ti,声,df/f,刁了厅,df/f,df/f,尸,H z,℃,10,kO,OF,PF,℃,10-'/℃',℃,10 .0,10 -0,10 -0,10 -`,M o,uW,32 7 68,一 10 - +60,士20}士30 1士50,<5302I 0< 40L3,010.0 8 50,1. 6士 0. 1 6,25 士 5,一 4 0,一 30 ~ 十 7 0,士3 { 士5,士 5 } 士5,士3 I 士5,士 3,10 0,1,4.2 外观质量,4.2. 1 技术要求,晶 体 元 件的外壳应光滑、平整、无毛刺和凹凸现象;无较重的划伤，涂彼层无剥落和锈蚀,4. 2. 2 试验方法,用 目 测 法检查晶体元件的外观质量,4.3 结构、外形尺寸和重量,4. 3. 1 技术要求,晶 体 元 件的结构见图1，外观尺寸和重量见表1,4.3.2 试验方法,用 能满 足精度要求的任何量具和衡具来测量外形尺寸和称其重量,4. 4 电参数的测量,测 量 条 件:,基 准 温度 25士0.5 'C(对调整频差);,25 士2 'C (对 其 他 项 目) ,激励 电 平 毛。.lww,4. 4. 1 谐振频率fY和负载谐振频率fL的测量,4.4.1.1 测量电路,同 IE C 689第2.1.1条,一 3 一,sa/T 10015-91,4.4.1.2 测量条件,同 1E C 6 8 9第 2.1 .2 a),b 同 I EC6 89第2.1. 2 b),c 合 成 器的频率分辨率至少为0.O lHz，杂散干扰小于60dB，谐波失真小于3Yo,d 被 测 晶体元件在基准温度(25士0.5 -C)下达到热平衡后再进行测量;,同 IEC 6 89 ……
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